Doska plošných spojov na testovanie plátkov

Dosky plošných spojov na testovanie plátkov sú dôležitým typom elektronických komponentov používaných na testovanie polovodičových plátkov. Je to špecializovaná doska používaná na testovanie elektronických súčiastok, používaná hlavne pri testovaní plátkov a iných príležitostiach.

Zariadenia na testovanie doštičiek môžu testovať rôzne typy polovodičových zariadení, ako sú integrované obvody, pamäťové moduly atď. Môžu tiež vykonávať rôzne testy, ako je elektrické testovanie, funkčné testovanie atď., aby sa zabezpečilo, že výkon komponentov spĺňa normy a požiadavky. .

Vzhľadom na dôležitosť testovania doštičiek sa dosky s plošnými spojmi na testovanie doštičiek často považujú za rozhodujúci elektronický komponent. Preto je v procese navrhovania a výroby potrebné dodržiavať normy a požiadavky vysokej presnosti a vysokej spoľahlivosti, aby bola zabezpečená ich dlhodobá stabilná prevádzka, čím sa poskytuje silná podpora modernému elektronickému priemyslu.

Doska plošných spojov na testovanie doštičiek je typ dosky plošných spojov používaná na testovanie polovodičových doštičiek, ktorá má tieto vlastnosti:

1. Zapojenie s vysokou hustotou:Dosky s plošnými spojmi na testovanie plátkov musia niesť veľké množstvo komponentov obvodov a vzdialenosť medzi komponentmi obvodu je veľmi blízka, takže je potrebné zapojenie s vysokou hustotou.

2. Vysokorýchlostný prenos:Doska musí podporovať vysokorýchlostný prenos, aby bolo možné rýchlo otestovať doštičku.

3. Vysoká spoľahlivosť:Keďže doska plošných spojov na testovanie plátkov nesie úlohu testovania plátku, jeho požiadavky na spoľahlivosť sú veľmi vysoké a nie sú povolené žiadne chyby.

Vďaka vysokej spoľahlivosti a stabilite dosiek na testovanie doštičiek sa používajú hlavne v oblasti výroby polovodičov a možno ich použiť na testovanie rôznych čipových produktov vrátane mikroprocesorov, pamätí a programovateľnej logiky. Jeho aplikácia môže výrobcom čipov umožniť lepšie pochopiť kvalitu a výkon čipov a zlepšiť konkurencieschopnosť produktov.

Sihui Fuji úspešne vyrobila 34-vrstvovú dosku na testovanie plátkov so slepými otvormi. Celková hrúbka dosky je riadená podľa 4,75 ± 0,254 mm a priemer slepého otvoru je φ0 0,175 mm. Laserový otvor jeφ0,10mm. Minimálny priemer vrtáku je 0,30 mm. Pomer hrúbky dosky k priemeru je 15,83:1. Pri výrobe tejto vysokej, viacvrstvovej a komplexnej dosky na testovanie plátkov sme prísne kontrolovali hodnoty zmrštenia lisovania, presnosti vŕtania a hrúbky medi otvorov, aby sme zaistili kvalitu dosky.

Dosky plošných spojov na testovanie plátkov sú jednou z nevyhnutných a dôležitých komponentov v modernom elektronickom priemysle a ich úspešný dizajn a výroba majú veľký význam pre zabezpečenie správnosti a konzistencie polovodičových súčiastok.

Obrázok: Doska plošných spojov na testovanie plátkov

Špecifikácia vzorovej dosky

Položka: Doska plošných spojov na testovanie plátkov

Vrstva: 34

Materiál: 370HR

Hrúbka dosky:4,75±0,254mm

Populárne Tagy: doska plošných spojov na testovanie doštičiek, výrobcovia dosiek plošných spojov na testovanie doštičiek v Číne, dodávatelia, továreň, 2 -stupňová doska HDI s vysokou hustotou, 2 stupňové HDI s vysokou hustotou PCB, Doska obvodu s impedanciou, Doska obvodu cievok, Doska s vysokou hustotou v LED svetle, Doska obvodu s vysokou hustotou v LED svetle